kaiyun手机|手机百度

Product catalog

查看全部

薄层方块电阻测量仪-非接触式
薄层方块电阻测量仪-非接触式：昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层方块电阻测量的非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪EddyCus TF Series，这款非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪可以非接触式实时测量，对导电薄膜和金属方块电阻精确测量，表征已被隐藏和封装的导电层，并把测量数据保存和导出。可用于方块电阻，方阻测量，四探针测试，四探针方阻测量。

型号：厂商性质：代理商
查看详情
非接触式金属膜厚测量仪
昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层膜厚测量的非接触式金属膜厚测量仪EddyCus TF Series，这款金属膜厚测量仪可以非接触式实时测量，对导电薄膜的膜厚精确测量，表征已被隐藏和封装的导电层，并把测量数据保存和导出。

型号：厂商性质：代理商
查看详情
MProbe系列膜厚测量仪（测量厚度1nm~1.8mm）
膜厚测量仪（测量厚度1nm~1.8mm）美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃级分辨率，非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中，比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层，触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。

型号：MProbe系列厂商性质：代理商
查看详情

共 3 条记录，当前 1 / 1 页首页上一页下一页末页跳转到第页

昊量微信在线客服