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光学部件

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相位偏折测量系统
相位偏折测量系统相位偏折术或条纹反射法，是一种非接触式、低成本、高鲁棒性且高精度的面形测量技术,绝对检测精度可达10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球面、离轴抛物面、自由曲面等面型的高精度检测。具有测量角度大、非接触、精度高、速度快等特点。

型号：厂商性质：代理商
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光谱透过率测量系统
光谱透过率测量系统:AUT GPS-200推出的⼀套光谱透过率测试系统，通过光谱仪与均匀光源组成透过率测量系统，帮助客户对光学玻璃、滤光⽚、膜层、显示屏（OLED、LCD等）、AR/VR透镜、油墨、染料、⽔质等进⾏光谱透过率的测量。

型号：厂商性质：代理商
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光学视角检测仪—显示测量
光学视角检测仪—显示测量，ELDIM制造基于傅里叶光学的光学视角检测仪已经超过25年了。基于*的光学设计，可以控制系统的角孔径与测量光斑大小相独立，可以实现非常高的光收集效率，超大掠射角(88°)的测量也具有很高的精度。

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Mprobe 20 薄膜测量系统（单点测量）
Mprobe 20 薄膜测量系统（单点测量）是一款桌面式单点薄膜厚度测量系统，只需点击鼠标薄膜厚度和折射率测量，测量厚度范围1nm-1mm.

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光腔衰荡光谱测量系统
光腔衰荡光谱方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一种基于高精细度谐振腔的高灵敏度探测技术，主要用于精确测量各种反射率大于99%的超高反射率反射镜的反射率，测量精度可达百万分之一量级！光腔衰荡光谱测量系统

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